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HAST高壓加速老化試驗箱
簡要描述：
HAST高壓加速老化試驗箱是可靠性加速測試設(shè)備，別稱高加速應力試驗機，主要用于模擬高溫、高濕、高壓復合環(huán)境，快速驗證電子元器件、半導體封裝、汽車電子、光伏配件等產(chǎn)品的長期耐濕熱老化性能，是精密電子行業(yè)研發(fā)、可靠性驗證、出廠質(zhì)檢的核心設(shè)備。相較于傳統(tǒng)濕熱測試，其老化效率提升數(shù)倍，可大幅縮短產(chǎn)品壽命驗證周期。
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發(fā)郵件給我們：apkjyzq@foxmail.comHAST高壓加速老化試驗箱又稱 HAST/PCT 高加速濕熱試驗機，依托高溫、高壓、高濕復合應力環(huán)境，快速加速水汽滲透與元器件老化，將自然環(huán)境數(shù)月的老化進程壓縮至數(shù)天，是電子行業(yè)可靠性檢測的核心設(shè)備。設(shè)備分飽和 PCT 與非飽和 HAST 兩種機型，控溫區(qū)間 100℃~150℃，濕度 65%~100% RH，承壓 0.02~0.25MPa，溫壓調(diào)控精度高，符合 IEC、JESD、GB/T 多項國內(nèi)外可靠性試驗標準。
HAST高壓加速老化試驗箱箱體內(nèi)膽采用 SUS304 耐腐蝕不銹鋼，圓形承壓腔體符合壓力容器規(guī)范，外殼冷軋鋼板靜電噴塑，耐磨防銹；搭載智能 PLC 控制系統(tǒng)，全程序可編程，自動補水、升降壓，可設(shè)置 0~999 小時長效試驗，選配多路偏壓接線端子，滿足帶電老化測試需求。設(shè)備配備自鎖安全門、超溫超壓雙重泄壓、缺水斷電報警等多重防護，箱內(nèi)壓力越大艙門密封越緊實，杜絕蒸汽泄漏隱患。
產(chǎn)品廣泛用于半導體芯片、PCB 線路板、LED 器件、車載電子、密封塑膠、磁性材料等檢測，快速暴露封裝漏氣、線路腐蝕、粘接失效等隱性缺陷，相較傳統(tǒng)雙 85 濕熱試驗效率提升 5~10 倍，助力研發(fā)端優(yōu)化配方工藝、生產(chǎn)端來料品質(zhì)篩查，現(xiàn)已批量應用于航天、汽車電子、光電、新能源電池等領(lǐng)域，為產(chǎn)品量產(chǎn)品質(zhì)把控提供精準試驗數(shù)據(jù)支撐。
